高低温真空磁场探针台

产品概述:
高低温真空磁场探针台是具备提供高低温、真空以及磁场环境的高精度实验台,它的诸多设计都是专用的。因此,高低温磁场探针台的配置主要是根据用户的需求进行选配及设计。例如,要求的磁场值,均匀区大小、均匀度大小、样品台的尺寸等,均于磁力线在一定区域内产生的磁通密度相关联;位移台还可与磁流体密封搭配,实现水平方向二维移动和样品台360度转动;除此之外,该探针台和我司自主研发的高精度双极性恒流电源搭配使用户,可以磁场的高稳定性。因此,该类型的探针台主要依据客户的使用情况进行设计优化。
探针台配备4个(6个、8个)拥有高精度位移的探针臂,同时配有高精度电子显微镜,便于微小样品的观察操作。探针可通过直流或者低频交流信号,用来测试芯片、晶圆片、封装器件等,广泛应用于半导体工业、MEMS 、超导、电子学、铁电子学、物理学、材料学和生物医学等领域。
  • 高低温真空磁场探针台
    产品概述:

        高低温真空磁场探针台是具备提供高低温、真空以及磁场环境的高精度实验台,它的诸多设计都是专用的。因此,高低温磁场探针台的配置主要是根据用户的需求进行选配及设计。例如,要求的磁场值,均匀区大小、均匀度大小、样品台的尺寸等,均于磁力线在一定区域内产生的磁通密度相关联;位移台还可与磁流体密封搭配,实现水平方向二维移动和样品台360度转动;除此之外,该探针台和我司自主研发的高精度双极性恒流电源搭配使用户,可以磁场的高稳定性。因此,该类型的探针台主要依据客户的使用情况进行设计优化。

        探针台配备4个(6个、8个)拥有高精度位移的探针臂,同时配有高精度电子显微镜,便于微小样品的观察操作。探针可通过直流或者低频交流信号,用来测试芯片、晶圆片、封装器件等,广泛应用于半导体工业、MEMS 、超导、电子学、铁电子学、物理学、材料学和生物医学等领域。

    高低温真空磁场探针台:

    图片1

    技术指标:

    高低温真空磁场探针台

    型号

    T8-EM4

    T8-EM5

    T8-EM7

    真空度

    高达10-8Pa

    腔体材质

    无磁不锈钢或者铝合金

    磁场范围

    2000Gs @50mm

    5000Gs@50mm

    1T@50mm

    磁场方向

    水平(可按用户要求设计成竖直方向的)

    配套电源

    双极性电源±50A

    双极性电源±70A

    双极性电源±90A

    电源稳定性

    50ppm(可选10ppm

    制冷方式

    液氦/液氮制冷/闭循环制冷机

    温度范围

    5K-325K可选500K

    控温分辨率

    0.001K控温仪相关

    温度稳定性

    优于0.1K依赖于控温仪

    温度传感器

    硅二极管/PT100/CernoxTM

    传感器数量

    样品台、防辐射屏、探针臂各一个

    样品台尺寸(max

    Φ50mm,平整度≤7μm

    样品台固定方式

    真空硅脂/弹簧压片

    样品台材质

    镀金无氧铜

    显微镜行程

    XY平面2*2inch,精度1μmZ轴行程≥50.8mm

    放大倍数

    16~100X/20~4000X

    真空腔观察窗尺寸

    1inch

    1.5inch

    2inch

    窗口材料

    熔融石英(可选K9、氟化钙等)

    探针臂数量

    2468可选

    探针臂行程

    (X-Y-Z)25mm-25mm-12mm可更换

    位移精度

    10μm /2μm/1μm/0.7μm可选

    接口形式

    普通真空接头/三同轴接头/BNC/SMA

    探针直径

    0.51mm

    针尖直径

    10μm/5μm/1μm可选

    探针材料

    /GGB

    供电电压

    AC220V 50Hz/60Hz

    AC380V 50Hz/60Hz

    选型注意事项:

    ※最大需要测几inch的晶圆或者器件是否需要测试破片或者单颗芯片最小的单颗芯片尺寸

    ※探针台机械精度要求多高 

    ※点测样品的电极尺寸100μm *100μm60μm *60μmpad,还是FIB制作的mini pad,或者ic内部的metal线路 

    ※最多需要几个探针同时去点测 

    ※是否会用到探针卡测试 

    ※光学显微镜的最小分辨率需要用到多少 

    ※显微镜方面,是否需要添加偏光片做LC液晶热点侦测 

    ※探针点测时,对电流的要求是否达到100fa或者以下

    电容要求是否要做到0.1pf是否有射频需求 

    ※接驳的测试仪器接口有哪些 

    ※测试环境时是否会需要加热或者降温 是否需要密闭腔体

    ※对chuck的漏电要求怎样是否需要添加低阻抗chuck 

    ※是否需要防震桌 

    ※若添置防震桌,是否有压缩空气

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